奧普特—AOI 外觀臟污檢測
2023/3/28 17:21:13
應用描述
采用線陣16K相機、背光加拱形光方式,對芯片表面進行拍攝,然后軟件Blob分析臟污。視野大小:60 mm 。精度要求: 0.005 mm 。
應用描述
采用線陣16K相機、背光加拱形光方式,對芯片表面進行拍攝,然后軟件Blob分析臟污。視野大小:60 mm 。精度要求: 0.005 mm 。