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西門子數(shù)字化工業(yè)軟件宣布，半導(dǎo)體晶圓代工廠聯(lián)華電子 (United Microelectronics Corporation, UMC) 目前已部署西門子的 mPower™ 軟件，用于電遷移 (EM) 和電壓降 (IR) 分析，助力芯片設(shè)計人員優(yōu)化性能并提升可靠性。

西門子 mPower 的可擴(kuò)展能力可幫助聯(lián)電等客戶針對更大規(guī)模的版圖進(jìn)行精確分析，其晶體管級布局前電遷移 (Pre-Layout EM) 與電壓降分析功能可以提前發(fā)現(xiàn)潛在問題，幫助設(shè)計人員優(yōu)化芯片性能并增強(qiáng)可靠性。

經(jīng)過全面評估，聯(lián)電成功利用 mPower 的自動化流程完成了 SRAM 全芯片電路的綜合分析，提供精確的電壓降分布評估，并可進(jìn)行早期風(fēng)險檢測。

聯(lián)華電子設(shè)備技術(shù)開發(fā)和設(shè)計支持副總裁鄭子銘表示：“通過將西門子的 mPower 集成到聯(lián)電的設(shè)計驗(yàn)證流程中，我們在開發(fā)周期的更早階段識別和解決潛在問題的能力得到了提升。這與現(xiàn)代設(shè)計需求非常契合，確保為聯(lián)電為客戶提供優(yōu)異的產(chǎn)品質(zhì)量。”

聯(lián)電部署西門子 mPower 所取得的關(guān)鍵優(yōu)勢包括：

通過前沿的可擴(kuò)展性和快速驗(yàn)證能力加快產(chǎn)品上市速度。

通過早期檢測和解決潛在問題增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性。

與現(xiàn)有設(shè)計工作流程無縫集成，實(shí)現(xiàn)全面的功耗分析。

西門子數(shù)字化工業(yè)軟件數(shù)字設(shè)計創(chuàng)作平臺高級副總裁兼總經(jīng)理 Ankur Gupta 表示：“聯(lián)華電子對西門子 mPower 的成功部署標(biāo)志著半導(dǎo)體設(shè)計驗(yàn)證能力的重大進(jìn)步。半導(dǎo)體行業(yè)正在面對日益增長的復(fù)雜挑戰(zhàn)，行業(yè)先驅(qū)正借助西門子的 EDA 工具加速設(shè)計流程，將高性能的可靠產(chǎn)品快速推向市場。”